Просвечивающий электронный микроскоп фирмы FEI с полевой эмиссией Tecnai G2 20F S-TWIN, ускоряющее напряжение до 200кВ, с разрешением по точкам 0.24 нм, информационный предел <0.15 нм, со сканирующей приставкой с регистрацией высокоугловых прошедших электронов (HAADF-детектор), оборудованный прецизионным гониометрическим столиком с поворотом образца на +/-40° и позиционированием с точностью до нанометров, энергодисперсионным микроанализом Si(Li)-типа, спектрометром энергетических потерь электронов Gatan Image Filter.